| infotek | 2024-09-09 17:16 |
線下課程——雜散光整體解決方案(9.20~9.22 深圳)時(shí)間地點(diǎn) 主辦單位：訊技光電科技（上海）有限公司 蘇州黌論教育咨詢有限公司（微信號：18001704725） 授課時(shí)間：2024年9月20(五）-22（日）共3天 AM 9:00-PM 16:00 授課地點(diǎn)：深圳市光明區(qū)鳳凰街道光明大道與科裕路交匯處尚智科園1棟1B座1503室 課程講師：訊技光電高級工程師 課程費(fèi)用：4800RMB(課程包含課程材料費(fèi)、開票稅金、午餐) 課程簡介 雜光理論和雜光問題研究要從以下幾個(gè)方面探索：雜散光輻射理論，雜散光合格判定標(biāo)準(zhǔn)、系統(tǒng)雜光測試方法，雜光分析與軟件，BSDF與測量數(shù)據(jù)，雜光抑制設(shè)計(jì)等。本課程介紹空間光學(xué)系統(tǒng)的雜散光來源，以及對紅外光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的影響，在簡化分析上，討論了雜散光分析的物理模型，利用已有的光學(xué)系統(tǒng)模型討論了雜散光計(jì)算和分析方法。用具體的模型說明雜散光分析和計(jì)算假設(shè)條件，為以后利用軟件進(jìn)行雜散光分析打下基礎(chǔ)。 課程分為兩部分，第一部分：雜散光分析與控制技術(shù)（2.5天），第二部分：角分辨散射光測量技術(shù)（0.5天） 課程大綱 1. 雜散光介紹與術(shù)語 1.1 雜散光路徑 1.2 關(guān)鍵面和照明面 1.3雜光內(nèi)部和外部雜散光 2. 基本輻射度量學(xué)-輻射 2.1 BSDF及其散射模型 2.2 TIS總散射概念 2.3 PST(點(diǎn)源透射比) 3. 雜散光分析中的光線追跡 3.1 FRED軟件光線追跡介紹 3.2構(gòu)建雜散光模型 定義光學(xué)和機(jī)械幾何 定義光學(xué)屬性 3.3 光線追跡 使用光線追跡來量化收斂速度 重點(diǎn)采樣 反向光線追跡 控制光線Ancestry以增加收斂速度 使用蒙特卡洛光線劈裂增加收斂速度 使用GPU來進(jìn)行追跡 RAM內(nèi)存使用設(shè)置  4.散射模型 4.1來自表面粗糙的散射 低頻、中頻、高頻 RMS粗糙度與BSDF的關(guān)系 由PSD推導(dǎo)BSDF 擬合BSDF測量數(shù)據(jù) 4.2 來自劃痕(光學(xué)損傷坑)的散射 4.3 來自顆粒污染的散射 來自球形顆粒中的散射（米氏散射理論） 顆粒密度函數(shù)模型 | |