| infotek | 2023-09-04 08:23 |
受激發(fā)射損耗(STED)顯微鏡原理 受激發(fā)射損耗(STED)顯微鏡描述了一種常用的技術(shù)，以實現(xiàn)在生物應用的超分辨率。在這種方法中，兩束激光—一束正常，一束轉(zhuǎn)變成甜甜圈模式—被疊加到熒光樣品上。通過使用熒光過程的發(fā)射和損耗以及利用由此產(chǎn)生的飽和效應，與通常的顯微鏡技術(shù)(例如，寬視場顯微鏡)相比，后反射光顯示出更高的分辨率。在本文檔中，介紹了這種設備的基本設置。為了模擬飽和效應，在焦點區(qū)域采用等效孔徑。 任務說明  多重光源  螺旋相位板  探測器插件  參數(shù)運行  為了實現(xiàn)焦點區(qū)域的z-掃描，可以執(zhí)行參數(shù)運行。使用此工具，用戶可以輕松改變整個光學系統(tǒng)的單個參數(shù)或一組參數(shù)。有關(guān)詳細信息，請參閱： | |