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infotek 2023-03-21 08:40

設(shè)計和分析GRIN擴散器

1.建模任務(wù) 4?bvJJuf)  
 nwzyL`kF  
 這個案例將演示設(shè)計與分析一個折射率調(diào)制的擴散器圖層以生成Top Hat圖案。 j WMTQLE.  
 設(shè)計包括兩個步驟： ;/kmV~KG  
- 設(shè)計相位函數(shù)來生成一個角譜Top Hat分布。 IM,4Si2  
- 基于相位調(diào)制來計算對應(yīng)的折射率調(diào)制。 < +k dL  
 如果想要更詳細的解釋設(shè)計和分析步驟，請參見教程Tut565。  z:   
;}M&fXFp"|  
>&k`NXS|V  
照明光束參數(shù) cmAdQ)(Kzd  
fn.;C  
$My~sN8  
 波長：632.8nm REh\WgV!u  
 激光光束直徑（1/e2）：700um SBdd_Fn  
 B@#vS=g  
理想輸出場參數(shù) 6urU[t1  
Mvp|S.  
~|N,{GaL  
g++-v HD  
 直徑：1° 1=C<aRZ b^  
 分辨率：≤0.03° W}%"xy