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2022-06-06 08:39

使用干涉儀的光學(xué)測量

光學(xué)計量學(xué)是精確測量的重要技術(shù)。例如，它經(jīng)常被用于表面測試，因此在質(zhì)量控制中發(fā)揮著重要作用。VirtualLab Fusion可以幫助您對各種類型干涉儀進(jìn)行建模，并將不同的光學(xué)表面和系統(tǒng)部件、甚至是傾斜和位移等對準(zhǔn)錯誤都包含在模擬中。我們以兩個廣泛使用的干涉儀--Mach-Zehnder型和Fizeau型為例進(jìn)行演示。

Mach-Zehnder干涉儀

我們在VirtualLab Fusion中建立了一個Mach-Zehnder干涉儀，并演示了元件的傾斜和位移是如何影響干涉條紋的。

用于光學(xué)檢測的Fizeau干涉儀

在非序列場追跡技術(shù)的幫助下，建立了一個Fizeau干涉儀，并顯示了幾個不同測試面的干涉條紋。

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