在腳本程序中應(yīng)用Importance Sampling Specifications

該文檔描述利用FRED腳本編程語(yǔ)言一次對(duì)一組表面應(yīng)用“重要性采樣定義”（importance sampling specifications）的一種方法。 與光源、表面、鍍膜、材料、散射模型、ARN和raytrace控制設(shè)置不同， 散射的“重要性采樣定義”在Fred 的目標(biāo)樹(shù)上沒(méi)有參考節(jié)點(diǎn)。通常情況下，用戶可能會(huì)通過(guò)拖拉（drag and drop）的方式，把一個(gè)光學(xué)表面特性施加到一組光學(xué)表面，而散射“重要性采樣定義”因沒(méi)有目標(biāo)樹(shù)上的節(jié)點(diǎn)位置，無(wú)法用“拖拉”的方式進(jìn)行表面特性定義，它通過(guò)利用腳本編程語(yǔ)言來(lái)實(shí)現(xiàn)這一功能。