| infotek |
2021-07-08 10:35 |
用于高NA顯微鏡成像的工程化PSF
顯微成像技術(shù)在最近的幾十年中得到迅速發(fā)展。 PSF（點擴散函數(shù)）通常不是像平面上的艾里斑。當對沿縱軸定向的偶極子源進行成像時，可以設(shè)計出一個甜甜圈形狀。 我們在VirtualLab Fusion中證明，當偶極子源的方向發(fā)生變化時，會獲得不同的非對稱PSF（不是艾里斑）。 此外，可通過在顯微鏡系統(tǒng)的光瞳平面中插入一定的相位掩模來獲得雙螺旋PSF [Ginni Grover et al., Opt. Exp. 2012]。通過這種工程化的PSF，甚至可以觀察到物體的微小散焦，即與傳統(tǒng)的成像方法相比，可以大大提高軸向分辨率。 我們通過在VirtualLab Fusion中應(yīng)用商業(yè)顯微鏡鏡頭（Nikon）系統(tǒng)來演示此現(xiàn)象。 aZ X
| |