| infotek | 2021-06-08 10:29 |
用于微結(jié)構(gòu)晶片檢測(cè)的光學(xué)系統(tǒng)在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中，晶片檢測(cè)系統(tǒng)用于檢查晶片上的缺陷并找到它們的位置。為保證微結(jié)構(gòu)的圖像解析度，檢測(cè)系統(tǒng)常使用一個(gè)高NA的物鏡，工作在紫外波長(zhǎng)范圍。作為一個(gè)例子，模擬了一個(gè)完整的晶片檢測(cè)系統(tǒng)，包括高NA聚焦效應(yīng)和光與微結(jié)構(gòu)的互作用，并演示了圖像的形成。  建模任務(wù)  結(jié)果  結(jié)果   文件信息  QQ：2987619807
|
|