Runsheet和Monitorlink Enhancements

2}1(j   •對反射和透射監(jiān)控計算光學信號 FJo N"X   •當膜層沉積時，動態(tài)加工因子（Dynamic Tooling Factors）可以不同 >+R`3|o '   •信號數(shù)據(jù)可以適應自定義范圍 -O3^q.   •對每個膜層，監(jiān)控波長和帶寬都可以改變 |)i-c`x   •對每個膜層可以用不同的校驗芯片 .Xh