| 探針臺 |
2020-12-25 10:26 |
激光探針臺測試內容
探針臺主要應用于半導體行業(yè)、光電行業(yè)。針對集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。 kw ^ Sbxm
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探針臺應用范圍：8寸以內Wafer，IC測試，IC設計等 [F[<2{FQF
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激光探針臺測試內容： /
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1. 微小連接點信號引出 X]"OW
2. 失效分析失效確認 @zF:{=+]+
3. FIB電路修改后電學特性確認 R mV/ wY
4. 晶圓可靠性驗證 B^~Bv!tHWr
5. 激光打標 vcU\xk")
6. 表層修復線路 z2V 8NUn
7. 驅除短路點 p Y>-N
8. 激光斷線 91d`LsP
9. 干擾芯片測試
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