infotek |
2020-08-13 09:31 |
干涉條紋研究
干涉測量是用于精確測量中最廣泛應(yīng)用的技術(shù)之一。通過觀察和研究條紋圖案,可以判斷表面形狀質(zhì)量或關(guān)于光譜帶寬的儀表信息。利用VirtualLab Fusion中非序列場追跡技術(shù),可以輕松地設(shè)置和分析光學(xué)干涉儀。在這里提出兩個經(jīng)典的基于邁克爾遜干涉儀的例子:一個高質(zhì)量相干激光光源,另一個寬帶白光光源。 jKt7M>P 4apL4E"r 基于激光的邁克爾遜干涉儀 J!5$,%v MEB it SlsdqP
9 借助VirtualLab Fusion中非序列追跡技術(shù)建立了該邁克爾遜干涉儀,并展示了不同配置中的干涉條紋。 /SYw;<= $D
| |