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infotek 2020-08-04 11:02

使用干涉儀的光學(xué)測量

光學(xué)計(jì)量學(xué)是精確測量的重要技術(shù)。例如，它經(jīng)常被用于表面測試，因此在質(zhì)量控制中發(fā)揮著重要作用。VirtualLab Fusion可以幫助您對(duì)各種類型干涉儀進(jìn)行建模，并將不同的光學(xué)表面和系統(tǒng)部件、甚至是傾斜和位移等對(duì)準(zhǔn)錯(cuò)誤都包含在模擬中。我們以兩個(gè)廣泛使用的干涉儀--Mach-Zehnder型和Fizeau型為例進(jìn)行演示。 v=YI%{tx)  
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Mach-Zehnder干涉儀 W!a'KI'  
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我們?cè)赩irtualLab Fusion中建立了一個(gè)Mach-Zehnder干涉儀，并演示了元件的傾斜和位移是如何影響干涉條紋的。 qK&h$;~*y  
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用于光學(xué)檢測的Fizeau干涉儀 .gw6W0\F  
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在非序列場追跡技術(shù)的幫助下，建立了一個(gè)Fizeau干涉儀，并顯示了幾個(gè)不同測試面的干涉條紋。 %lGg}9k'  
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QQ：2987619807 h{e?Fl  
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