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飛躍小河 2020-03-20 14:27

[Vrituallab]馬赫澤德干涉儀

摘要 @#1T-*  
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干涉測(cè)量法是一項(xiàng)用于光學(xué)測(cè)量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓、缺陷、機(jī)械和熱變形的高精度測(cè)量。作為一個(gè)典型示例，在非序列場(chǎng)追跡技術(shù)的幫助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學(xué)元件的傾斜和位移對(duì)干涉條紋圖的影響。 UC*\3:>'n  
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建模任務(wù) h 7  c  
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由于組件傾斜引起的干涉條紋 bo_Tp~ j  
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