| 探針臺 |
2020-02-26 14:29 |
雙束電鏡介紹
主要優(yōu)勢 M oIq)5/
使用 Sidewinder HT離子鏡筒快速、簡便地制備高質(zhì)量、定位TEM 和原子探針樣品 |2oCEb1
Thermo Scientific NICol™ 電子鏡筒可進行超高分辨率成像， 滿足最廣泛類型樣品（包括磁性和不導(dǎo)電材料）的最佳成像需求 ?`jh5Kw%y
各類集成化鏡筒內(nèi)及極靴下探測器，采集優(yōu)質(zhì)、銳利、無荷電圖像，提供最完整的樣品信息 :i;iSrKy
可選AS&V4軟件，精確定位感興趣區(qū)域，獲取優(yōu)質(zhì)、多模態(tài) 內(nèi)部和三維信息 }Xn5M&> ?
高度靈活的110 mm樣品臺和內(nèi)置的Thermo Scientific Nav-Cam™相機實現(xiàn)精確樣品導(dǎo)航 (QA Rle(i
專用的DCFI、漂移抑制技術(shù)和Thermo Scientific SmartScan™等模式實現(xiàn)無偽影成像和圖形加工 l$j/Ye]
靈活的 DualBeam 配置，優(yōu)化解決方案滿足特定應(yīng)用需求 zUw=e}?:
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通用型高性能雙束系統(tǒng) W{z7h[?5,
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Scios 2 DualBeam 提供最佳的樣品制備、內(nèi)部及三維表征性能，可滿足最廣泛類型樣品的應(yīng)用需求。 hj~nLgpN
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Thermo Scientifc™ Scios™ 2 DualBeam™ 系統(tǒng)是一款超高分辨率分析系統(tǒng)，可為最廣泛類型的樣品（包括磁性和不導(dǎo)電材料） 提供出色的樣品制備和三維表征性能。 Scios 2 DualBeam 系統(tǒng)創(chuàng)新性的功能設(shè)計，優(yōu)化了其樣品處理能力、分析精度和易用性， 是滿足科學(xué)家和工程師在學(xué)術(shù)、政府和工業(yè)研究環(huán)境中進行高級研究和分析的理想解決方案。該系統(tǒng)于2013年推出市場，MTBF>1500hr，深受廣大半導(dǎo)體用戶愛戴。 J Iw=Bs
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高質(zhì)量 TEM 制樣 o;d> <
科學(xué)家和工程師不斷面臨新的挑戰(zhàn)，需要對具有更小特征的日益復(fù)雜的樣品進行高度局部化表征。Scios 2 DualBeam 系統(tǒng)的最新技術(shù)創(chuàng)新，結(jié)合最易于使用、最全面的 Thermo Scientific q6xm#Fd'.
AutoTEM™4軟件（可選）和專業(yè)的應(yīng)用知識，可快速輕松地定位制備各類材料的高分辨S/TEM樣品。 為了獲得高質(zhì)量的結(jié)果， 需要使用低能離子進行精拋，以最大限度地減少樣品的表面損傷。Thermo Scientific Sidewinder™HT聚焦離子束（FIB）鏡筒不僅可以在高電壓下提供高分辨率成像和刻蝕，而且具有良好的低電壓性能，可以制備高質(zhì)量的TEM薄片。 *3,Kn}ik
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高質(zhì)量內(nèi)部和三維信息 p>GTFXEi6
內(nèi)部或三維表征有助于更好地理解樣品的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)， Scios 2 Vh%=JL
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DualBeam 系統(tǒng)配備 Thermo Scientific Auto Slice＆View™4 %T
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