探針臺(tái) |
2019-09-17 14:13 |
可靠度證明試驗(yàn)(Reliability Demonstration Test)
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Lw`\J|%p wn&2-m*a 可靠度證明試驗(yàn)(Reliability Demonstration Test) @@jdF-Utj; 常用方法:高溫加速模式(Arrhenius model- Equation 1) bE~lc}% 優(yōu)點(diǎn):實(shí)驗(yàn)結(jié)果+統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)- 歷史悠久且買(mǎi)主較不會(huì)質(zhì)疑 h;->i] 缺點(diǎn):由于現(xiàn)今產(chǎn)品之Cycle time短,近幾年客戶端對(duì)IT類產(chǎn)品壽命要求須達(dá)五年也越來(lái)越多,因此試驗(yàn)通常耗時(shí)較久,因此若以適當(dāng)之溫度應(yīng)力分析方法將可大幅縮短試驗(yàn)之進(jìn)行時(shí)程。 l.$#IE .&y1gh!= 市場(chǎng)回饋信息(Field data)
~A/_\- 優(yōu)點(diǎn):真實(shí),無(wú)庸置疑 r;z A ` 缺點(diǎn):需要較長(zhǎng)時(shí)間與足夠市場(chǎng)回饋信息,且一但發(fā)生問(wèn)題時(shí)早已數(shù)千或數(shù)萬(wàn)的產(chǎn)品已投入市場(chǎng)。
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