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xunjigd

2019-05-30 14:49

VirtualLab：馬赫-曾德?tīng)柛缮鎯x

摘要

[attachment=93602]

干涉測(cè)量是一種光學(xué)計(jì)量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓，缺陷，機(jī)械和高精度熱變形等領(lǐng)域的測(cè)量。作為一個(gè)典型的例程，在非序列場(chǎng)追跡的幫助下，我們?cè)赩irtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德?tīng)柛缮鎯x，本案例清楚地展示了光學(xué)元件的傾斜和移位對(duì)干涉條紋圖案的影響。