訊技david |
2018-04-28 14:19 |
VLF技術(shù)文章——用于微結(jié)構(gòu)晶片檢測的光學(xué)系統(tǒng)
摘要 @4;&hP2Z: *5e<\{! 在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,晶片檢測系統(tǒng)用于檢查晶片上的缺陷并找到它們的位置。為保證微結(jié)構(gòu)的圖像解析度,檢測系統(tǒng)常使用一個高NA的物鏡,工作在紫外波長范圍。作為一個例子,模擬了一個完整的晶片檢測系統(tǒng),包括高NA聚焦效應(yīng)和光與微結(jié)構(gòu)的互作用,并演示了圖像的形成。 cv3L&zg M d-~vR(tU p~h4\.*` 建模任務(wù) [M4xZHd#o &]w#z=5SXi Bb~5& @M|N 結(jié)果 :3v9h^|+ S#k{e72 * `%|u! 結(jié)果 ~L~]QN\3 XJUEwX cST\~SUm 結(jié)果 ,s0
9B V{!lk]p}a `aIG;@Z 文件信息 T)8p:}P! B~?c3:6 KGu= ; Best wishes, d<#p %$A4 行銷部 17621763047(微信同號) +$PFHXB --------------------------------------------------------------------- X<Z(]`i 訊技光電科技(上海)有限公司/上海訊稷光電科技有限公司/訊稷光拓科技(香港)有限公司 S/VA~,KCe; 上海市普陀區(qū)武威路88弄(中鑫企業(yè)廣場)21號樓A座2樓郵編:200333 I:F
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