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訊技david 2018-04-28 14:19

VLF技術(shù)文章——用于微結(jié)構(gòu)晶片檢測的光學(xué)系統(tǒng)

摘要 @4;&hP2Z:  
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在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,晶片檢測系統(tǒng)用于檢查晶片上的缺陷并找到它們的位置。為保證微結(jié)構(gòu)的圖像解析度,檢測系統(tǒng)常使用一個高NA的物鏡,工作在紫外波長范圍。作為一個例子,模擬了一個完整的晶片檢測系統(tǒng),包括高NA聚焦效應(yīng)和光與微結(jié)構(gòu)的互作用,并演示了圖像的形成。 cv3L&zg M  
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文件信息 T)8p:}P!  
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