=O8>[u; 比如sio2 材料 n一般是1.45
kw#-\RR_c 然后3個
光學(xué)厚度的話是 180nm 現(xiàn)在電腦里面
模擬下3個光學(xué)厚度下的波形,然后鍍180nm厚度的sio2 這個是電腦輸入的值
WcM\4q@ 然后測試結(jié)果
uM,Ps} sio2 測試反射比較明顯,測試出來的
曲線可以用來做2件事
TXyiCS3 1.通過測試波形 用其他
軟件 可計算你現(xiàn)在
鍍膜環(huán)境下的n值,如果偏差不大 可忽略啊 然后只有3個點的n值 算過好多機器和環(huán)境下的sio2的
折射率 感覺都差不多 影響不大。
uifVSf* 2.用 模擬結(jié)果的特征峰 跟 測試結(jié)果的特征峰 相除可得到tooling值,這個也是粗略的值 但是用下來還是比較方便簡單的
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