光機(jī)模型導(dǎo)入完畢后，使用LT的NS追跡功能想看看光路情況，但是光線追跡到某一片透鏡的時(shí)候就報(bào)錯(cuò)無法追跡下去了，報(bào)錯(cuò)內(nèi)容為“入射可能覆蓋元件表面”，但是我把這個(gè)透鏡單獨(dú)拿出來又是可以追跡的，光學(xué)材料和表面屬性設(shè)置都沒問題。請問有誰知道怎么解決的或是遇到過這種情況的？望不吝賜教，謝謝！

檢查一下，元件之間有沒有干涉。

結(jié)構(gòu)有點(diǎn)干涉，都排除了。重新追跡后還是有類似問題，看光線好像是在光路中某一個(gè)虛擬面處折射了。難道機(jī)械繪圖時(shí)的基準(zhǔn)面之類的虛擬面也會有影響嗎？ #/=
yz<B  
mzR @P$:36  
另外再請教一下，在做雜散光分析的時(shí)候，好像TracePro里有一項(xiàng)功能是在像面照度圖上選擇特定的光斑范圍，系統(tǒng)就能單獨(dú)顯示出形成這些光照度的特定光線，不知道LightTools有沒有類似的功能？ ;//qjo  
Y[]t_o)  
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