尋求有光學(xué)設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)和制作能力的團(tuán)隊(duì)或個(gè)人，共同設(shè)計(jì)一套光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)。 Tqf:G4!  
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需求簡(jiǎn)述： k#g` n3L  
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采用標(biāo)準(zhǔn)光源，依照CIE色度測(cè)量幾何條件，設(shè)計(jì)一套45°a:0°的雙光路測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)物體表面光譜的反射比（反射因數(shù)）的測(cè)量。 *HONA>u   
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有意者請(qǐng)按下述聯(lián)系方式介紹說(shuō)明個(gè)人設(shè)計(jì)能力或過(guò)往經(jīng)驗(yàn)。 XsEotW  
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