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-0CL#RzKR 儀器介紹 "Rf|o 6!d PSM 3-D裝調(diào)定位儀源自美國(guó)亞利桑那大學(xué)光學(xué)中心，是一個(gè)通用型輔助裝調(diào)工具，主要應(yīng)用于復(fù)雜光學(xué)系統(tǒng)的裝調(diào)，可以有效幫助確定光學(xué)元件各表面的球心位置，從而完成光學(xué)系統(tǒng)光軸準(zhǔn)直。 j\B taC 儀器利用光學(xué)自準(zhǔn)直系統(tǒng)、微透鏡及軟件算法等實(shí)現(xiàn)光學(xué)裝調(diào)定位的精密光學(xué)儀器，該儀器重點(diǎn)為對(duì)光學(xué)裝調(diào)的理解與認(rèn)識(shí)，能夠進(jìn)行多種測(cè)試，該發(fā)明者在美國(guó)亞利桑那大學(xué)光學(xué)中心有著多年的光學(xué)裝調(diào)及測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，通過(guò)多年的研發(fā)，總結(jié)了在光學(xué)裝調(diào)方面多種技巧，適應(yīng)各種苛刻條件的裝調(diào)（如：大鏡面的離軸測(cè)試），并能夠根據(jù)客戶(hù)的需求給出用戶(hù)不同裝配方案，軟件方面，測(cè)試數(shù)據(jù)可以直接導(dǎo)入到labview中，方法簡(jiǎn)單實(shí)用。 b'/:e#F 產(chǎn)品應(yīng)用n 便攜式高精度數(shù)字顯微攝像機(jī)，用于研究小樣品或者大目標(biāo)。
n 非接觸，3-D測(cè)距探針可以用做三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)或x-y-z位移臺(tái)上星點(diǎn)法檢測(cè)成像系統(tǒng)；能量百分比數(shù)據(jù)分布在一個(gè)圓形區(qū)域內(nèi)，在離軸鏡校準(zhǔn)過(guò)程中，我們可以看到像差的逐漸減小。
n 在沒(méi)有物鏡頭的情況下，使用電子自準(zhǔn)直方法。
n 借助于三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x或者簡(jiǎn)易的調(diào)整夾具，可以快速裝調(diào)復(fù)雜的光學(xué)系統(tǒng)。
n 快速檢查光學(xué)系統(tǒng)的裝調(diào)定位情況。
n 對(duì)于光學(xué)平臺(tái)或者導(dǎo)軌上的被測(cè)件，可測(cè)量其表面的曲率半徑。
n 光學(xué)表面與機(jī)械基準(zhǔn)面的校準(zhǔn)定位，例如定位球、測(cè)孔規(guī)等。
`i ~J0#P 測(cè)試原理： $`C$|9S 本儀器結(jié)合了光學(xué)自準(zhǔn)直原理，通過(guò)與高精密元件及軟件書(shū)案發(fā)的配合實(shí)現(xiàn)對(duì)精密儀器的定位作用。 =@P(cFJ/ 
CX {M@x3m 如圖，如果物鏡的焦點(diǎn)精確定位在球面鏡的曲率中心。 -
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oq>jCOVh 則反射光會(huì)在探測(cè)器的中心位置聚焦成一個(gè)點(diǎn)，該點(diǎn)在CCD上成像如下圖所示：
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光行天下>光學(xué)檢測(cè)、光學(xué)測(cè)量與光機(jī)裝調(diào)>光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)工具——3-D裝調(diào)定位儀的應(yīng)用及原理
