料位影響平板極片電容的容量，利用被測(cè)量物體的介電常數(shù)差異于氛圍的性質(zhì)。檢測(cè)電容量的變革就能得到料位。大抵是這樣的很干凈，都整理過(guò)了也用高壓氣流吹過(guò)。也沒(méi)有停滯物，應(yīng)該沒(méi)塵土了帶還是出現(xiàn)S0代碼妨礙。 WG8iTVwx  
TDAWI_83-  
　　根據(jù)介電常數(shù)。事情原理便是檢測(cè)容量。 9RCO|J  
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　　實(shí)際常用的又兩種要領(lǐng) 83 i1  
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　　當(dāng)料上升到電容檢測(cè)面的時(shí)間，離子濃度測(cè)量?jī)x接納多個(gè)電容式靠近開(kāi)關(guān)舉行崎嶇點(diǎn)檢測(cè)。電容傳感器輸出一個(gè)開(kāi)關(guān)信號(hào)。