Zemax光學(xué)設(shè)計(jì)從入門到精通	Zemax光學(xué)設(shè)計(jì)從基礎(chǔ)到實(shí)踐	成像衍射光學(xué)元件設(shè)計(jì)及應(yīng)用	現(xiàn)代光學(xué)與光子學(xué)技術(shù)
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只看樓主倒序閱讀樓主發(fā)表于: 2011-10-17

關(guān)鍵詞：光學(xué)反射測量

介紹了以光時(shí)域反射儀（OTDR）為代表的光學(xué)鏈路連續(xù)分布參數(shù)的的反射式測量技術(shù)。在闡明OTDR基本測量原理和實(shí)現(xiàn)方式的基礎(chǔ)上，著重討論了時(shí)域相關(guān)測量，頻域測量和干涉測量技術(shù)各自的特點(diǎn)及對測量精度的改進(jìn)。

一、概述

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