隨著電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)尺寸越來越小，目前出現(xiàn)了兩個特別引人注目的問題︰一是可接觸的電路節(jié)點越來越少；二是像在線測試（ In-Circuit-Test ）這些方法的應(yīng)用受到限制。為了解決這些問題，可以在電路布局上采取相應(yīng)的措施，采用新的測試方法和采用創(chuàng)新性適配器解決方案。 c+ie8Q!  
　　通過遵守一定的規(guī)程（ DFT-Design for Testability ，可測試的設(shè)計），可以大大減少生產(chǎn)測試的準(zhǔn)備和實施費(fèi)用。這些規(guī)程已經(jīng)過多年發(fā)展，當(dāng)然，若采用新的生產(chǎn)技術(shù)和組件技術(shù)，它們也要相應(yīng)的擴(kuò)展和適應(yīng)。本文主要介紹電路可測試性的相關(guān)知識，以及如何提高電路可測試性。 yHaGkm  
　　1、什么是可測試性 UiNP3T
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　　可測試性的意義可理解為︰測試工程師可以用盡可能簡單的方法來檢測某種組件的特性，看它能否滿足預(yù)期的功能。簡單地講就是︰ :`sUt1Fw.  
　　l．檢測產(chǎn)品是否符合技術(shù)規(guī)范的方法簡單化到什幺程度？ Id9TG
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　　編制測試程序能快到什幺程度？ Y]a@j!  
　　發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品故障全面化到什幺程度？ Q!3_$<5<E>  
　　接入測試點的方法簡單化到什幺程度？  Z\sDUJ  
　　為了達(dá)到良好的可測試必須考慮機(jī)械方面和電氣方面的設(shè)計規(guī)程。當(dāng)然，要達(dá)到最佳的可測試性，需要付出一定代價，但對整個工藝流程來說，它具有一系列的好處，因此是產(chǎn)品能否成功生產(chǎn)的重要前提。 P+}h$_x  
　　2、為什么要發(fā)展測試友好技術(shù) XjBD{m(  
　　過去，若某一產(chǎn)品在上一測試點不能測試，那幺這個問題就被簡單地推移到直一個測試點上去。如果產(chǎn)品缺陷在生產(chǎn)測試中不能發(fā)現(xiàn)，則此缺陷的識別與診斷也會簡單地被推移到功能和系統(tǒng)測試中去。 |s_GlJV.  
　　相反地，今天人們試圖盡可能提前發(fā)現(xiàn)缺陷，它的好處不僅僅是成本低，更重要的是今天的產(chǎn)品非常復(fù)雜，某些制造缺陷在功能測試中可能根本檢查不出來。例如某些要預(yù)先裝軟件或編程的組件，就存在這樣的問題。（如快閃存儲器或 ISPs ︰ In-System Programmable Devices 系統(tǒng)內(nèi)可編程器件）。這些組件的編程必須在研制開發(fā)階段就計劃好，而測試系統(tǒng)也必須掌握這種編程。 Z_NCD`i;  
　　測試友好的電路設(shè)計要費(fèi)一些錢，然而，測試?yán)щy的電路設(shè)計費(fèi)的錢會更多。測試本身是有成本的，測試成本隨著測試級數(shù)的增加而加大；從在線測試到功能測試以及系統(tǒng)測試，測試費(fèi)用越來越大。如果跳過其中一項測試，所耗費(fèi)用甚至?xí)�更大。一般的�?guī)則是每增加一級測試費(fèi)用的增加系數(shù)是 10 倍。通過測試友好的電路設(shè)計，可以及早發(fā)現(xiàn)故障，從而使測試友好的電路設(shè)計所費(fèi)的錢迅速地得到補(bǔ)償。 xIn:ZKJ'  
　　3、文件資料怎樣影響可測試性 5)40/cBe  
　　只有充分利用組件開發(fā)中完整的數(shù)據(jù)資料，才有可能編制出能全面發(fā)現(xiàn)故障的測試程序。在許多情況下，開發(fā)部門和測試部門之間的密切合作是必要的。文件資料對測試工程師了解組件功能，制定測試戰(zhàn)略，有無可爭議的影響。 pj(,Zd[47  
　　為了繞開缺乏文件和不甚了解組件功能所產(chǎn)生的問題，測試系統(tǒng)制造商可以依靠軟件工具，這些工具按照隨機(jī)原則自動產(chǎn)生測試模式，或者依靠非矢量相比，非矢量方法只能算作一種權(quán)宜的解決辦法。 Zd+bx*rD  
　　測試前的完整的文件資料包括零件表，電路設(shè)計圖數(shù)據(jù)（主要是 CAD 數(shù)據(jù)）以及有關(guān)務(wù)組件功能的詳細(xì)資料（如數(shù)據(jù)表）。只有掌握了所有信息，才可能編制測試矢量，定義組件失效樣式或進(jìn)行一定的預(yù)調(diào)整。 Hn:Crl y#  
　　某些機(jī)械方面的數(shù)據(jù)也是重要的，例如那些為了檢查組件的焊接是否良好及定位是否所需要的數(shù)據(jù)。最后，對于可編程的組件，如快閃存儲器， PLD 、 FPGA 等，如果不是在最后安裝時才編程，是在測試系統(tǒng)上就應(yīng)編好程序的話，也必須知道各自的編程數(shù)據(jù)�？扉W組件的編程數(shù)據(jù)應(yīng)完整無缺。如快閃芯片含 16Mbit 的數(shù)據(jù)，就應(yīng)該可以用到 16Mbit ，這樣可以防止誤解和避免地址沖突。例如，如果用一個 4Mbit 存儲器向一個組件僅僅提供 300Kbit 數(shù)據(jù)，就可能出現(xiàn)這種情況。當(dāng)然數(shù)據(jù)應(yīng)準(zhǔn)備成流行的標(biāo)準(zhǔn)格式，如 Intel 公司的 Hex 或 Motorola 公司的 S 記錄結(jié)構(gòu)等。大多數(shù)測試系統(tǒng)，只要能夠?qū)�快閃或 ISP 組件進(jìn)行編程，是可以解讀這些格式的。前面所提到的許多信息，其中許多也是組件制造所必須的。當(dāng)然，在可制造性和可測試性之間應(yīng)明確區(qū)別，因為這是完全不同的概念，從而構(gòu)成不同的前提。 ]M3yLYK/P  
　　4、良好的可測試性的機(jī)械接觸條件 iy"*5<;*DD  
　　如果不考慮機(jī)械方面的基本規(guī)則，即使在電氣方面具有非常良好的可測試性的電路，也可能難以測試。許多因素會限制電氣的可測試性。如果測試點不夠或太小，探針床適配器就難以接觸到電路的每個節(jié)點。如果測試點位置誤差和尺寸誤差太大，就會產(chǎn)生測試重復(fù)性不好的問題。在使用探針床配器時，應(yīng)留意一系列有關(guān)套牢孔與測試點的大小和定位的建議。 =(^3}x  
　　5、最佳可測試性的電氣前提條件 L/[K"  
　　電氣前提條件對良好的可測試性，和機(jī)械接觸條件一樣重要，兩者缺一不可。一個門電路不能進(jìn)行測試，原因可能是無法通過測試點接觸到激活輸入端，也可能是激活輸入端處在封裝殼內(nèi)，外部無法接觸，在原則上這兩情況同樣都是不好的，都使測試無法進(jìn)行。在設(shè)計電路時應(yīng)該注意，凡是要用在線測試法檢測的組件，都應(yīng)該具備某種機(jī)理，使各個組件能夠在電氣上絕緣起來。這種機(jī)理可以借助于禁止輸入端來實現(xiàn)，它可以將組件的輸出端控制在靜態(tài)的高歐姆狀態(tài)。 :T~