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EMD代理美國SCI高精準薄膜度量系統(tǒng)與軟件分析產(chǎn)品

發(fā)布:sbisna 2009-08-29 10:15 閱讀:3046
EMD代理美國SCI高精準薄膜度量 系統(tǒng) 與 軟件分析 產(chǎn)品, {tDH !sX  
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美國SCI為世界薄膜度量系統(tǒng)和分析軟件行業(yè)的領(lǐng)軍者, HPus/#j'+  
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其產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導體,OLED/LCD, 光電,數(shù)據(jù)存儲,顯示器,微型機電系統(tǒng)以及光附膜產(chǎn)業(yè),SCI的薄膜特性度量系統(tǒng)品種豐富,從臺式研發(fā)設(shè)備到全自動生產(chǎn)工具以及分析/設(shè)計軟件應(yīng)有盡有。 \,ko'4 8@  
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1)    Film Wizard™ 軟件 : 市面上功能最強大的,多用途,界面友好的薄膜測試模擬軟件 E5+-N  
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應(yīng)用實例,目前已經(jīng)有多套Film Wizard™軟件應(yīng)用于中國光電,半導體行業(yè)的研發(fā)和生產(chǎn)行業(yè)。 TS Ev^u)3  
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2) FilmTek™ 系統(tǒng): 為SCI出產(chǎn)的基于分光光度技術(shù)的度量系統(tǒng),有多種不同配置,配合不同需求. 11g_!X -g@  
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1.多層厚度(1Å 到 250 microns) h6(\ tRd!\  
2.折射率n *De}3-e1b  
3.吸收系數(shù)k 99YgQ Y]HO  
4.雙折射率 t9\}!{<s  
5.能隙(Eg) )s~szmJoVD  
6.表面粗糙度和損傷 $[xS>iuD  
7.多孔性,薄膜成份,結(jié)晶度(EMA模式) ^Mm