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[求助]光學(xué)表面檢測(cè)的理論依據(jù) [復(fù)制鏈接]

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只看樓主倒序閱讀樓主發(fā)表于: 2007-08-25

各位大俠：
在光學(xué)冷加工車間來(lái)判斷光學(xué)表面是否符合要求，一般采用擠壓法來(lái)判斷。
在有些書(shū)中用平面干涉儀來(lái)判斷。見(jiàn)附件圖示。請(qǐng)問(wèn)，這種根據(jù)干涉條紋的形狀判斷待測(cè)面是凸還是凹有什么理論依據(jù)？

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