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摘要 0*S2_&Q)
R9X* R3nB Wpo:'?!(M^ 對于電磁場的全面表征，不僅是能量密度的信息，而且是相位的信息都具有關(guān)鍵價值。雖然在模擬中我們可以直接從數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)中計算出這些信息，但在真實的實驗室中，則需要更復(fù)雜的方法。測量這種信息的常見工具是Shack Hartmann傳感器，它使用微透鏡陣列（MLA），通過焦平面上相應(yīng)光點的位移來重建一個入射場的波前。為了研究這類設(shè)備，我們演示了Shack Hartmann傳感器的模擬，以不同的波前作為輸入。 (,~gY=E+ H"8fnN=xB 任務(wù)描述 ngM>Tzirt
?[>+'6 Sr1xG%;|/ a) 平面波 V:*QK, - 波長640nm RX.n7Tb - 與原點的距離無限大 ~GJJ{Bm_ - 2毫米×2毫米直徑(長方形) @N?A 0S/ b) 傾斜的平面波 V3O<l}ak - 波長640nm 5bZf$$b - 2.5°傾斜 _
F&BSu - 2毫米×2毫米直徑(長方形) - g'[1 c) 弱球面波 bV_@!KL$ - 波長640nm V3&_ST - 與原點的距離為100毫米 E"7 iU - 2毫米×2毫米直徑(長方形) z-*/jFE d) 強球面波 HE0UcP1U - 波長640nm
zj.;O#hW - 與原點的距離為40毫米 @l~zn%!X - 2毫米×2毫米直徑(長方形) xh[De}@ 微透鏡陣列 F+ r3~T% - 材料：N-BK7 )8Defuxk - 凸面-凸面 MY1 1 5% - 曲率半徑：5毫米 '&{`^l/ MH - 200 μm × 200 μm 透鏡尺寸（長方形） aW-'Jg=@H^ - 5×5個微透鏡 5}FPqyK" 探測器 MM8r*T4g/ - 輸入場的波前 k^-HY[Q9 - 理想平面波聚焦面的電磁場的能量密度 ~A ul 7[IH y'ULhDgq^B 系統(tǒng)構(gòu)件 - 組件 J {"<Hgb
m'&^\7;D SS; [{u ! 微透鏡陣列組件允許輕松定義任意形狀的微透鏡陣列。材料和尺寸通過 Solid選項卡定義，而微透鏡的表面形狀則使用堆棧概念進行配置，并可通過單獨的Surface Add-Ons選項卡訪問。 Jsf -t 該組件可以通過整個結(jié)構(gòu)或單個微透鏡進行模擬。 QGE)Xn#_bN 4 %do.D* 系統(tǒng)構(gòu)件 – 探測器 _h1n]@
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Jybx'vZj 71i".1l{K Camera Detector能夠計算出系統(tǒng)中任何一點的電磁場的能量密度。Electromagnetic Field Detector計算出純的、復(fù)值的場數(shù)據(jù)。如果用戶希望看到這些信息，它還可以計算和提取所述場的波前。
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