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- 注冊時間2020-06-19
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摘要 u.&|CF- E<a.LW @
仿真技術(shù)的主要作用之一是提供一個平臺，以便在系統(tǒng)制造之前研究系統(tǒng)的性能，以便盡可能多地預(yù)防潛在的缺陷。雜散光是影響系統(tǒng)性能的最常見現(xiàn)象之一，雜散光可能有多個來源，其中包括系統(tǒng)中的內(nèi)部偽反射。在這個用例中，我們分析了高Na激光二極管準(zhǔn)直透鏡系統(tǒng)中這種反射的存在，我們模擬了產(chǎn)生的鬼像對探測場的影響(由主準(zhǔn)直光束的干涉引起的同心環(huán)圖案和由雜散光產(chǎn)生的二次發(fā)散)，并確定需要在透鏡系統(tǒng)的關(guān)鍵表面上涂上抗反射涂層。 )GCLK<,swu sVD([`Nmc  F=5kF/}x-z Z`"n:'& 建模任務(wù) 8AX3C s_G 8a!2zwUBV  3It8& x:
 u p~@?t2 MZiF];OY 準(zhǔn)直系統(tǒng) DD6
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