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光學測量>顯微鏡 v4X)R
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tq 9<1dps=c C\gKJW^]y@ 亮點 u:%Ln_S PI$K+}E h%>yErs h=MEQ-3jg 在顯微鏡系統(tǒng)中,完整的矢量分析光柵 X~ g9TUv8 數(shù)秒內(nèi)快速的高性能分析復雜系統(tǒng) R
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# 簡單地在光線追跡和物理光學模擬之間切換 e4Q2$Q@b 研究偏振效應 cP>[H:\Xc CjUYwAy$k 說明:光源 Isg\ fSK<j 角向偏振光 Ew*SA gE~LPwM _.^`DP> j4}Q tk!5"`9N v8
pOA<s 徑向偏振光 K4Hu0 K5}0!_)G hf< [$B Nh"U~zlh 說明:透鏡系統(tǒng) oR'u&\mB #,Cz+k*4 jUd)|v+t ]Yk)A.y 說明:樣品結(jié)構 b
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EfGy^`,'G ecyN};V> 說明:探測器 ZP9x3MHe 4XIc|a Aa WlmkM?@ 9i+`,r
結(jié)果:3D光線追跡 W7"UhM l9f%?<2D 3U%kf<m= lwm
9gka 結(jié)果:光線追跡 nt$q< 57 t"jiLOQ[6 角向偏振光 Cm;M;
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