近日，中科院上海光機所高功率激光元件技術與工程部光學檢測與表征中心研究團隊，在自由曲面光學元件面形自適應干涉檢測領域取得新進展，相關成果以“Fast, intelligent and high-precision adaptive null interferometry for optical freeform surfaces by backpropagation”為題發(fā)表于Optics Express。 jv"^_1  
針對現(xiàn)有自適應波前干涉術（AWI）所存在的分步和無模型優(yōu)化的局限性，該研究提出了基于反向傳播的確定性自適應波前干涉術（DAWI）。與AWI不同，DAWI在自適應波前補償過程中不完整干涉條紋的重建和疏化是同時進行的，從而可以大大提高測試效率。為提升DAWI的優(yōu)化性能，該研究還提出了AdaGradDec梯度下降優(yōu)化器。實驗證明，相較于三步法AWI，DAWI在條紋重建中的迭代次數(shù)減少了至少20倍。 Gob;dku  
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