摘要 pSzO)j  
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干涉測量法是光學計量學的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 6^'BhHP  
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建模任務 N1vPY]8  
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元件傾斜引起的干涉條紋 .wb[cCUQ  
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圖片:1-200G3152603930.png

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