摘要 5YUe>P D  
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干涉測量法是光學(xué)計(jì)量學(xué)的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機(jī)械和熱變形。 作為一個(gè)典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學(xué)元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 az}zoFl  
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建模任務(wù) e-xT.RnQ  
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元件傾斜引起的干涉條紋 :efDPNm5  
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元件移動引起的干涉條紋 f?@M"p@T  
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走進(jìn)VirtulLab Fusion bDegIW/'w  
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VirtualLab Fusion工作流程 )%: W;H  
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• 設(shè)置入射高斯場

−基本源模型[教程視頻] u)D!Rh