摘要 F$H^W@<w  
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Fabry-Pérot標(biāo)準(zhǔn)具廣泛應(yīng)用于激光諧振器和光譜學(xué)中，用于敏感波長的濾波。通常，它們由兩個(gè)高反射(HR)涂層表面和之間的空氣(或玻璃)組成。在這個(gè)例子中，建立了一個(gè)以硅為間層的標(biāo)準(zhǔn)具光學(xué)測量系統(tǒng)，以測量鈉D線。利用非序列場追跡技術(shù)，充分考慮了多元反射對條紋對比度的影響，研究了涂層的反射率對條紋對比度的影響。 h%(0|  
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建模任務(wù) )\0LxsZ  

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具有高反射(HR)涂層的標(biāo)準(zhǔn)具 3']=w@~ O[  
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圖層矩陣解算器 @1G`d53N  
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9Y-6e0B:  
分層介質(zhì)組件采用圖層矩陣電磁場求解器。該求解器工作在空間頻域(k-域)。它包含 \j3XT}  
1. 一個(gè)特征模求解器為每個(gè)均勻?qū)雍?span style="display:none"> tz"zQC$  
2. 一個(gè)s矩陣，用于在所有接口處匹配邊界條件。
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本征模求解器計(jì)算各層均勻介質(zhì)k域的場解。S-矩陣算法通過遞歸方式匹配邊界條件計(jì)算整個(gè)圖層系統(tǒng)的響應(yīng)。 \
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這種方法以其無條件的數(shù)值穩(wěn)定性而聞名，因?yàn)榕c傳統(tǒng)的傳遞矩陣不同，它避免了計(jì)算步驟中的指數(shù)增長函數(shù)。 Dh{sVRA  
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更多的信息： 0`l(c  
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總結(jié)-組件 a76`"(W
 
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兩條光譜線的可視化 yu]nK-Y7S  
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精細(xì)vs.涂層反射率 h$eVhN&Vv  
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