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摘要 s-%J5_d f o$t
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IX.sy Q.1XP Fabry-Pérot標準具廣泛應用于激光諧振器和光譜學中,用于敏感波長的濾波。通常,它們由兩個高反射(HR)涂層表面和之間的空氣(或玻璃)組成。在這個例子中,建立了一個以硅為間層的標準具光學測量系統(tǒng),以測量鈉D線。利用非序列場追跡技術(shù),充分考慮了多元反射對條紋對比度的影響,研究了涂層的反射率對條紋對比度的影響。 82s5VQ6 U3+A MVnB 建模任務 Pt(tRH
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