近日，中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所研究員王俊團(tuán)隊在基于機(jī)器學(xué)習(xí)算法實現(xiàn)二維材料層數(shù)識別和物性檢測方面取得進(jìn)展，相關(guān)文章以Thickness Determination of Ultrathin 2D Materials Empowered by Machine Learning Algorithms為題發(fā)表于《激光與光子學(xué)評論》（Laser & Photonics Reviews）。 DC4O@"  
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自從發(fā)現(xiàn)石墨烯以來，大量新型二維層狀材料逐漸被發(fā)現(xiàn)和制備，目前已成為涵蓋絕緣體、拓?fù)浣^緣體、半導(dǎo)體、半金屬到超導(dǎo)體的龐大家族。通常，二維材料的層數(shù)對于調(diào)節(jié)納米電子和光電器件的性能具有重要意義，在實現(xiàn)進(jìn)一步的物理研究或器件制造之前，往往需要確定目標(biāo)樣品的最佳厚度。目前，通過光學(xué)技術(shù)獲得光學(xué)圖像或光譜信息后，后續(xù)的數(shù)據(jù)處理往往依賴研究人員的專業(yè)知識，并且受個人經(jīng)驗和主觀因素影響較大。 fG_.&!P  
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