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時(shí)間地點(diǎn) g bP]!d:I 主辦單位：訊技光電科技（上海）有限公司 aS^
4dEJ 協(xié)辦單位：蘇州黌論教育咨詢有限公司 D^( Nijl9U 授課時(shí)間：隨時(shí)隨地學(xué)習(xí) b)+;#m 授課地點(diǎn)：黌論教育網(wǎng)校 ] m$;ra] 課程費(fèi)用：4500 元（包含課程材料費(fèi)、開(kāi)票稅金） 7J ~usF>A 授課講師：訊技光電高級(jí)工程師 7*bUy)UZ 學(xué)員要求：不需要任何軟件基礎(chǔ) %3L4&W _T 3},0b8}; 課程簡(jiǎn)介 HZp}<7NR(7 當(dāng)收到需求者的光學(xué)規(guī)格及非光學(xué)規(guī)格如環(huán)境測(cè)試要求時(shí)，既可以著手選用 VdrqbZ 所需的基板，鍍膜材料及膜數(shù)與厚度設(shè)計(jì)。設(shè)計(jì)開(kāi)始可以從標(biāo)準(zhǔn)膜系著手，例如 }9w?[hXW" 高反射鏡不管波寬大小，開(kāi)始我們一定是以四分之一波膜堆為設(shè)計(jì)基礎(chǔ)，倘若是 6,nws5dh 截止濾光片，則應(yīng)以對(duì)稱膜堆為設(shè)計(jì)基礎(chǔ)。當(dāng)初始設(shè)計(jì)無(wú)法滿足要求時(shí)，我們需 =(ULfz[: 要考慮商業(yè)軟件或自行設(shè)計(jì)電腦軟件來(lái)參與合成或優(yōu)化，設(shè)計(jì)好之后，即刻進(jìn)行 0w'%10"&U+ 制造成功率分析，亦看膜層厚度的誤差值的容許度，若是鍍膜機(jī)的精密度做不到， t5r,3x!E 則要修改設(shè)計(jì)，重新分析直到合格為止。 ;pK/t=$ 課程涵蓋 Macleod 軟件所有模塊、光學(xué)薄膜膜系設(shè)計(jì)與優(yōu)化方法。培訓(xùn)期間 D4e*Wwk 針對(duì)實(shí)例，演示完整的光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)與分析過(guò)程。課程旨在讓各界相關(guān)技術(shù)人員 W\JbX<mQ 快速知悉軟件的各項(xiàng)功能的同時(shí)，并通過(guò)相關(guān)的實(shí)例演示掌握該軟件在光學(xué)鍍膜 |9YY8oT. 領(lǐng)域的具體應(yīng)用。 - YF]k}|  idWYpU>gC {+CW_ce 課程大綱： \'z&7;px 1. 軟件基礎(chǔ)入門(mén) ('H[[YODh 軟件簡(jiǎn)介 jV 83%%e 軟件計(jì)算方法簡(jiǎn)介 H Aq 程序基本框架和全局參數(shù)設(shè)置 ao2Nw H## 程序中使用的各種術(shù)語(yǔ)的定義 clE_a? 2. 圖表 xign!= 繪圖和制表來(lái)表示性能3D 繪圖-用兩個(gè)變量繪圖表示性能 MeD}S@H 交互式繪圖的使用 2g>4fZ 3. 材料管理 LxWnPi ^ 材料的獲取 cg16| 材料的導(dǎo)入與導(dǎo)出 lX^yd5M&f 材料數(shù)據(jù)平滑與插值 J$' Q3k 用包絡(luò)法推導(dǎo)介質(zhì)膜的光學(xué)常數(shù) KI* erK
[d 利用光譜儀的測(cè)量值計(jì)算基底光學(xué)常數(shù) jNKu5"HB 材料模型擬合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann) C% hMh/Li; 4. 薄膜設(shè)計(jì)與優(yōu)化簡(jiǎn)介 `zQ2 i}Uju 優(yōu)化與合成功能說(shuō)明 U^ bF}4m 優(yōu)化目標(biāo)&評(píng)價(jià)函數(shù)(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate e^;<T9Esr Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local) gXrPZ|iS 膜層鎖定和鏈接 X
rBe41 減反膜優(yōu)化 *G'R+_tdE 高反膜優(yōu)化 ={HY wP ; 濾光片優(yōu)化 ZbmBwW_ 7 斜入射光學(xué)薄膜 >ZAb9=/M)F 5. 反演工程 ;+d2qbGd 鍍膜過(guò)程中兩種主要的誤差（系統(tǒng)誤差和隨機(jī)誤差） "
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A 使用反演工程來(lái)控制對(duì)設(shè)計(jì)的搜索，該設(shè)計(jì)代表實(shí)際生產(chǎn)的產(chǎn)品 0)@7$Xhf 6. 分析工具 "eqN
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