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光學(xué)測量＞顯微 T@&K- UQ Jx7C'~,J 任務(wù)/系統(tǒng)描述 T1 Z;r*} |\IN.W[EL
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+:!7L= N# 亮點 <;m<8R jX
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irfcs}Z pRIhFf 顯微鏡系統(tǒng)中對光柵進(jìn)行完全矢量分析 J1sv[$ 9 對復(fù)雜系統(tǒng)進(jìn)行數(shù)秒內(nèi)的快速高性能分析 +&( Mgbna 在光線追跡以及物理光學(xué)建模間簡單切換 4;]hK!AXS r6}
|hpJ8 說明：光源 %9N7Ln|% a>]uU*Xm  dP<=BcH>f iwp{%FF 說明：透鏡系統(tǒng) '~[d=fwH $oU* 9}}Rn  W~~7 C,!
2Z Mb<b4H 說明：樣品結(jié)構(gòu) * @v)d[z_ 9-
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BY&,4r b8"?VS5-" 說明：探測器 }v *G_}^ 9~mh@Kgv  D=m9fFz Raxrb=7 結(jié)果：3D光線追跡 f'-i o<. F6OpN "UM'
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F/47x 結(jié)果：場追跡矩形光柵 v7jq@#- 4UlyxA~  /VS [pXXT|
E.ly#2 ? 結(jié)果：場追跡鋸齒形光柵 D2!X?"[ P  * /|lJm'R
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