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光學(xué)測量>顯微鏡 !.9vW&t 2X*<Fma3C mc'p-orAf kut|A 亮點 TJpv"V /;4MexgB%
w#T,g9 PR?clg=z 在顯微鏡系統(tǒng)中,完整的矢量分析光柵 H1nQ.P]_ 數(shù)秒內(nèi)快速的高性能分析復(fù)雜系統(tǒng) t {"iIz_S 簡單地在光線追跡和物理光學(xué)模擬之間切換 9ojhI=: 研究偏振效應(yīng) ,*[LnR ra>`J_ 說明:光源 ,7P^]V1 角向偏振光 lc-|Q#$3$ .@Uz/j?>
E5 oD|'=WA 9C;Y5E~'L B:~;7A\ MPbPq3an 徑向偏振光 'I]"=O, 'cN#rHPB6 P@YL.'KU) )|R9mW=k9P 說明:透鏡系統(tǒng) .,Qnn}:l >8fH5 UwkX[u M7R&J'SAY 說明:樣品結(jié)構(gòu) W_\L_)^X q-%KfZ@(| ATM:As:<@ 4QAIQQS 說明:探測器 V1)P=?%(US ~[TKVjyO
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