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光學(xué)標(biāo)準(zhǔn)具用于各種應(yīng)用，例如在光譜學(xué)和激光諧振器領(lǐng)域。標(biāo)準(zhǔn)具的基本結(jié)構(gòu)僅僅包括一對平面平行的透明板，并可以形成一個眾所周知的Fabry-Pérot諧振器，它通常用于光譜和/或角度選擇。 YK'<NE3 4  
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VirtualLab Fusion的非序列場追跡技術(shù)能夠精確建模完全不同類型的標(biāo)準(zhǔn)具，無論是結(jié)合高反射膜層的平面或曲面。此外，物理-光學(xué)建模方法自動包含矢量效應(yīng)，因此允許研究偏振效應(yīng)對干涉圖樣的影響。 |0b`fOS  
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作為一個典型的應(yīng)用，我們演示了用一個標(biāo)準(zhǔn)具作為關(guān)鍵元件的光路來檢測鈉D線。 zTSTEOP}%Y  
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在VirtualLab Fusion中，建立了一套采用間隔硅標(biāo)準(zhǔn)具的光學(xué)測量系統(tǒng)來測量鈉D線。進(jìn)一步研究了實際膜層反射率的影響。 hL{KRRf>  
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研究了具有平面和曲面的光學(xué)標(biāo)準(zhǔn)具。利用非序列場追跡技術(shù)，對相關(guān)干涉圖樣進(jìn)行了建模，并考慮了矢量效應(yīng)。