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一個膜系的吸收率是一個可以計算的參數(shù)，它能與反射率和透射率一起作為二維和三維圖的可選參數(shù)列出。此外，還有兩個工具可以處理吸收率，它們隱藏在設(shè)計分析部分，即Absorptance Rate和Total Absorptance。這兩個工具到底是做什么的？ U<H< !NV  
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吸收率是一種測量膜層損失能量的方法。嚴(yán)格地說，它應(yīng)該是轉(zhuǎn)化成熱量的東西，但通常只把它作為反射光和透射光中所缺少的東西的一種度量。因為與真正的吸收相比，大多數(shù)其他的損耗通常都很小，而且由于它們和吸收一樣，與電場振幅的平方成正比，所以任何差別都很小。不管怎樣，大多數(shù)工程師都喜歡對總損失進(jìn)行衡量。對于Essential Macleod而言，薄膜材料的消光系數(shù)就是與吸收相關(guān)的參數(shù)。它所代表的損失取決于它的測量方法。因此我們寫了一個光學(xué)薄膜 eW^_YG%(  
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1=R+T+A (1) vTY+J$N__  
如果結(jié)果以百分比表示，則左側(cè)變?yōu)?00。這就是設(shè)計吸收率的計算方法。 Km9Y_`?  
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現(xiàn)在讓我們考慮一層厚度為dt的薄層埋在膜層內(nèi)。每單位面積薄層中的功率損失將是凈入射輻照度（Ienter）和凈出射輻照度（Iexit）之間的差值。這可以通過各種方式進(jìn)行操作。 ?A7_&=J%  
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將入射到整個涂層上的輻射強(qiáng)度設(shè)為Iincidence，薄片的吸收率為dA，勢吸收率為da。則 ^+20e3 ~Y  
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然后，膜層中的總吸收率簡單地是（2）在膜厚度上的積分。 uNSbAw3  
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圖1顯示了使用具有無吸收低折射率材料（SiO2）和輕微吸收的高折射率材料（TiO2）薄膜的窄帶濾光片的一些結(jié)果。電場分布的平方很好地解釋了吸收率變化。勢吸收率幾乎相同，因為反射率為零，但膜層前面部分的吸收降低了分母上的Ienter的值，因此膜層后部的吸收率逐漸增加。 Apx
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