蘋果新專利公布:基于超表面材料的結構光測距方案
近日,USPTO公布一項來自蘋果的光學專利,專利中指出了一種基于超表面材料的圖案投影模組,可用來實現(xiàn)于iPhone Face ID使用的TrueDepth結構光測距功能。
據(jù)了解,常見的投影模塊通常包含光源、透鏡系統(tǒng)和衍射光學元件(DOE),其缺點是體積、重量和成本高。為了解決這一問題,蘋果設計了一個基于超材料的單個光學元件,特點是同時具備聚焦/準直和輸出圖案功能。 蘋果在專利中介紹,該方案包含單個透明基板,基板上的第一超表面可將照射到光學元件上的輸入光束進行對焦,而第二超表面則會將輸入光束分成多個輸出光束陣列。 應用場景方面,該方案可通過將光斑圖案投射到目標場景上,來實現(xiàn)結構光深度測繪,對目標場景的結構進行測量定位。 |