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在測量信號或數(shù)據(jù)的情況下，很難(如果不是不可能的話)完全避免所有可能的噪聲源，因為這些噪聲源會干擾任何實驗測量。但是，噪聲的存在會干擾數(shù)據(jù)的重要特征(例如，測量光譜的半寬譜)。 YRg"{[+#]k
因此，有一些后期處理技巧可能會有所幫助。這里我們只討論一個這樣的工具:Savitzky-Golay濾波器，它通過對一組采樣點執(zhí)行回歸算法來平滑局部噪聲。在這個例子中，我們討論了VirtualLab Fusion中這個特性的選項和效果，并以一個綠色LED燈在60 nm帶寬下發(fā)射的光譜為例進行了測試。 :eIi^K z[
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 )<Fq}Q86 /RVwhA+c 2.如何進入Savitzky-Golay過濾器 U#V&=~-
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[ZY;g:p
對于每個實值數(shù)據(jù)數(shù)組，都可以在下面找到Savitzky-Golay濾波器 K|pg'VT"
操作→ b?{MXJ|
雜項→ j,n\`7dD$
Savitzky-Golay過濾器 (1EtC{
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BG |m 5f
 J':X$>E| JBhM*-t(M1 3.可視化的過濾函數(shù) vA3wn><
= N&5]Z
 L4DT*(;!E Hr_5N,
4.影響過濾器-窗口大小 oyB
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JDJ"D\85 更大的窗口大小導(dǎo)致在擬合過程中考慮更多的采樣點，因此曲線更平滑。 zu3Fi = |0
K| dI'TnW
 N5[^W`Qf +0}z3T1L 更高的階數(shù)允許更詳細的曲線，但反過來也可以保留局部噪聲。 2&"qNpPtE
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 [rkw k\m* SJB^dI**/d 5.局部噪聲過濾 y2 W|,=Vd
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 @( bg# wz '= 6.FWHM 檢測 =t^jl b
8.,d`~
 oXjoQ ?7>"ZGDe> 7.等距的重采樣 h
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