雙縫干涉實(shí)驗(yàn)最初由Thomas Young在19世紀(jì)初進(jìn)行，它顯示了光的波動性質(zhì)，是空間相干測量的重要技術(shù)。在VirtualLab Fusion中，我們用單點(diǎn)光源和擴(kuò)展光源復(fù)現(xiàn)了Young的實(shí)驗(yàn)。我們通過檢查干涉條紋對比度的變化來研究擴(kuò)展源的相干特性。 k<H%vg>{~s
x?#I4RJH; *i^`Dw^~y 楊氏干涉實(shí)驗(yàn) n Zfs=@w:y
J! { Al (&jW}1D 在 VirtualLab Fusion中,我們復(fù)現(xiàn)了著名的楊氏干涉實(shí)驗(yàn)，并檢驗(yàn)了狹縫寬度、狹縫距離以及使用擴(kuò)展源的影響。 7h %4] @Br
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編程一個雙縫函數(shù) d+;gw*_Ei
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ldGojnS 給出了一個用于定義雙狹縫函數(shù)的示例片段，該函數(shù)具有可自定義的狹縫寬度和狹縫之間的距離。 ef=K_ ,
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