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    [分享]馬赫澤德干涉儀 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2021-06-17
    摘要 7X 4/6]*  
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    干涉測量法是一項用于光學(xué)測量的重要技術(shù)。它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓、缺陷、機械和熱變形的高精度測量。作為一個典型示例,在非序列場追跡技術(shù)的幫助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學(xué)元件的傾斜和位移對干涉條紋圖的影響。 mV!Ia-k  
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    建模任務(wù) QA|87alh  
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    由于組件傾斜引起的干涉條紋 5rp,xk!  
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    由于偏移傾斜引起的干涉條紋 m q#8 [D  
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