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Techwiz LCD 1D的TN模式光學(xué)分析 創(chuàng)建堆棧結(jié)構(gòu)  設(shè)定仿真條件，并把上偏光片和液晶盒厚度設(shè)置為變量并輸入變量條件，最后執(zhí)行結(jié)果分析。  結(jié)果分析 1.透過(guò)率隨盒厚的變化  TN模式下不同波長(zhǎng)透過(guò)率隨液晶盒厚度d(um)的變化(常白模式opt.Axis:phi -135和常黑模式opt.Axis.phi -45) 可以看出透過(guò)率隨著Δnd的增大而周期性變化，選擇第一處極值(2.5um)為液晶盒厚分析光學(xué)特性。 2.透射率隨電壓的關(guān)系  TN模式下不同波長(zhǎng)透過(guò)率隨電壓的變化(常白模式和常黑模式) 常黑模式的TN結(jié)構(gòu)由于液晶材料的色散會(huì)存在一定暗態(tài)漏光(如圖中綠光)，常白模式暗態(tài)漏光極少且低灰階色偏現(xiàn)象小，因此對(duì)比度相對(duì)較高，所以TN一般使用常白模式。 3.極坐標(biāo)圖  常白模式未施加電壓下不同視角下的透過(guò)率的極坐標(biāo)圖  常白模式不同視角下對(duì)比度的極坐標(biāo)圖 QQ：2284816954 備注：光學(xué) |
