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解析空間光調(diào)制器消光比的測(cè)試方法

發(fā)布：中科微星 2021-04-09 16:47 閱讀：1020
空間光調(diào)制器具有調(diào)制精度高，光利用率高等特點(diǎn)，深受廣大用戶(hù)認(rèn)可。 84p[N8  
消光比雖然不是空間光調(diào)制器標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試參數(shù)，但是通過(guò)消光比我們可以間接的得到SLM相位性能水平(相位調(diào)制準(zhǔn)確度，SLM表面平整度)如何。 GP{$v:RG  
此外由于消光比測(cè)試的光路比較簡(jiǎn)單，也方便客戶(hù)長(zhǎng)時(shí)間觀察SLM性能變化，進(jìn)行故障排除等工作。下面我們將介紹空間光調(diào)制器標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量消光比的方法。 O^X[9vrW  
空間光調(diào)制器以測(cè)量x10468-01為例。起偏器和檢偏器使用USP-25.4C0.4-38 工作波長(zhǎng)是400-700nm。 c#{Ywh  
半反半透鏡(half mirror)使用是PSCH-60C10-10W-550 起偏器檢偏器與半反半透鏡使用類(lèi)似性能的即可。 HzD>