芯片失效分析領取點列表芯片失效分析領取點列表 彩頁自取點:2021年3月17-19日 上海新國際博覽中心 入場無需核酸檢測證明
彩頁主要內容為失效分析項目Decap;X-Ray;3D X-Ray;SAT;IV;FIB;EMMI;SEM;EDX;OM;Probe;切割制樣;Rie;定點研磨;非定點研磨;高溫存儲;低溫存儲等介紹。 ![]() 北京軟件產品質量檢測檢驗中心(簡稱:北軟檢測)成立于2002 年7月,是經北京市編辦批準,由北京市科學技術委員會和北京市質量技術監(jiān)督局聯(lián)合成立的事業(yè)單位。2004年1月,國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局批準在北軟檢測基礎上籌建國家應用軟件產品質量監(jiān)督檢驗中心(簡稱:國軟檢測),2004年10月國軟檢測通過驗收并正式獲得授權,成為我國第一個國家級的軟件產品質量監(jiān)督檢驗機構。 |