集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免，隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來越重要，通過芯片失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計人員找到設(shè)計上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計與操作中的不當(dāng)?shù)葐栴}。 zF<R'XP  
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圖片:北軟檢測EMMI.jpg

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失效分析的意義主要表現(xiàn)？ &QgR*,5eo  
具體來說，失效分析的意義主要表現(xiàn)在以下幾個方面： i/4>2y9/F4  
失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。 &8lZNv8;(p  
失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。 l_p2Riv  
失效分析為設(shè)計工程師不斷改進或者修復(fù)芯片的設(shè)計，使之與設(shè)計規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。 i_%_