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芯片測試術(shù)語解釋
芯片測試術(shù)語解釋
發(fā)布：
探針臺
2020-05-13 16:49
閱讀：
1826
芯片
測試術(shù)語解釋CP是把壞的
Die
挑出來，可以減少
封裝
和測試的成本�？梢愿苯拥闹�
Wafer
的良率。
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是把壞的
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挑出來；檢驗封裝的良率。
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