亚洲AV日韩AV无码污污网站_亚洲欧美国产精品久久久久久久_欧美日韩一区二区视频不卡_丰满无码人妻束缚无码区_久爱WWW成人网免费视频

芯片失效分析常見方式

發(fā)布：探針臺(tái) 2020-04-24 15:38 閱讀：1747
1、X-Ray 無損偵測，可用于檢測 c1_?Z  
IC封裝中的各種缺陷如層剝離、爆裂、空洞以及打線的完整性 )i>T\B  
PCB制程中可能存在的缺陷如對齊不良或橋接 9}Zi_xK&|e  
開路、短路或不正常連接的缺陷 N" oJ3-~