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芯片測試及晶圓測試

發(fā)布：探針臺 2019-08-16 10:26 閱讀：2401
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一、需求目的：1、熱達(dá)標(biāo)；2、故障少 @!'rsPrI  
二、細(xì)化需求，怎么評估樣品：1、設(shè)計(jì)方面；2、測試方面 \-?0ab3Z  
三、具體到芯片設(shè)計(jì)有哪些需要關(guān)注： P;8nC:z